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日本日立掃描探針顯微鏡控制器概述
AFM5000Ⅱ工作站采用全新的圖標用戶界面,標準配備參數(shù)自動設置功能(RealTune® II),即使是剛剛接觸SPM的初學者或者遇到全新的樣品時,也能快速獲得準確的測量數(shù)據(jù)。
日本日立掃描探針顯微鏡控制器特點
1. RealTune® II 樶新的參數(shù)自動設置功能
【實例1】纖維狀的碳納米管結構體(壁虎膠帶)
【樣品提供:日東電工股份公司】
以往的方法這些樣品需要對參數(shù)進行精細的調整,操作難度很高,并且柔軟的纖維易變形產(chǎn)生皺痕。
新處理方法
自動設置成合適的條件,可在復雜的纖維結構不變形的情況下進行精zhun測量。
【實例2】用于有機薄膜晶體管的多結晶薄膜(并五苯多結晶薄膜)
【樣品提供:神戶大學北村研究室】
以往的方法這種樣品,表面容易損壞,易產(chǎn)生皺痕、臺階的輪廓也不明顯。
新處理方法
自動設置成合適的條件,穩(wěn)定地測量分子級別上的臺階結構。
2. 全新的圖標用戶界面(Graphical Use Interface)
簡單的菜單設置
3. 3D覆蓋功能
能夠將樣品形貌及物理特性疊加顯示,并能構畫出3D畫面,可以通過視覺感受表示樣品的物理特性。
4. 凹凸分析、剖面輪廓分析功能
配備凹凸分析、剖面輪廓分析等多樣的分析功能。
5. 小型化設計
輕便的小型化外形,適合各種場地擺放。
220 mm(W)×500 mm(D)×385 mm(H)、約15 kg
能夠將樣品形貌及物理特性疊加顯示,并能構畫出3D畫面,可以通過視覺感受表示樣品的物理特性。